Lektura Blg. 10
Ang flaw detection ay isang larangan ng kaalaman na sumasaklaw sa teorya, pamamaraan at teknikal na paraan ng pagtukoy ng mga depekto sa materyal ng mga kinokontrol na bagay, lalo na sa materyal ng mga bahagi ng makina at mga elemento ng istruktura ng metal.
Ang pagtuklas ng kapintasan ay isang mahalagang bahagi ng pag-diagnose ng teknikal na kondisyon ng kagamitan at mga bahagi nito. Ang trabaho na may kaugnayan sa pagkilala ng mga depekto sa materyal ng mga elemento ng kagamitan ay pinagsama sa pag-aayos at pagpapanatili o isinasagawa nang nakapag-iisa sa panahon ng teknikal na inspeksyon.
Upang matukoy ang mga nakatagong depekto sa mga materyales sa istruktura, ginagamit ang iba't ibang mga pamamaraan ng pagsubok na hindi mapanirang (detect ng kapintasan).
Ito ay kilala na ang mga depekto sa isang metal ay nagdudulot ng mga pagbabago sa mga pisikal na katangian nito: density, electrical conductivity, magnetic permeability, elastic at iba pang mga katangian. Ang pag-aaral ng mga katangiang ito at ang pagtuklas ng mga depekto sa kanilang tulong ay ang pisikal na kakanyahan ng mga hindi mapanirang pamamaraan ng pagsubok. Ang mga pamamaraang ito ay batay sa paggamit ng matalim na radiation ng x-ray at gamma ray, magnetic at electromagnetic field, vibrations, optical spectra, capillarity phenomena at iba pa.
Ayon sa GOST 18353, ang mga hindi mapanirang pamamaraan ng pagsubok ay inuri ayon sa uri: acoustic, magnetic, optical, penetrating substance, radiation, radio wave, thermal, electrical, electromagnetic. Ang bawat uri ay isang kondisyonal na pangkat ng mga pamamaraan na pinagsama ng mga karaniwang pisikal na katangian.
Ang pagpili ng uri ng flaw detection ay depende sa materyal, disenyo at laki ng mga bahagi, ang likas na katangian ng mga nakitang depekto at ang mga kundisyon ng flaw detection (sa mga workshop o sa isang makina). Ang mga pangunahing tagapagpahiwatig ng husay ng mga pamamaraan ng pagtuklas ng kapintasan ay ang pagiging sensitibo, resolusyon, at pagiging maaasahan ng mga resulta. Pagkamapagdamdam– pinakamaliit na sukat ng mga nakitang depekto; resolusyon– ang pinakamaliit na distansya sa pagitan ng dalawang katabing minimum na nakikitang mga depekto, na sinusukat sa mga yunit ng haba o bilang ng mga linya bawat 1 mm (mm -1). Pagiging maaasahan ng mga resulta– ang posibilidad ng mga nawawalang depekto o pagtanggi ng mga angkop na bahagi.
Mga pamamaraan ng tunog ay batay sa pagtatala ng mga parameter ng elastic vibrations na nasasabik sa bagay na pinag-aaralan. Ang mga pamamaraan na ito ay malawakang ginagamit upang kontrolin ang kapal ng mga bahagi, mga di-kasakdalan (mga bitak, porosity, mga cavity, atbp.) At pisikal at mekanikal na mga katangian (laki ng butil, intergranular corrosion, lalim ng hardened layer, atbp.) ng materyal. Ang kontrol ay isinasagawa batay sa isang pagsusuri ng likas na katangian ng pagpapalaganap ng mga sound wave sa materyal ng bahagi (amplitude, phase, bilis, anggulo ng repraksyon, resonance phenomena). Ang pamamaraan ay angkop para sa mga bahagi na ang materyal ay may kakayahang elastically resisting shear deformations (mga metal, porselana, plexiglass, ilang mga plastik).
Depende sa dalas, ang mga acoustic wave ay nahahati sa infrared - na may dalas na hanggang 20 Hz, tunog (mula 20 hanggang 2∙10 4 Hz), ultrasonic (mula 2∙10 4 hanggang 10 9 Hz) at hypersonic (higit sa 10 9 Hz). Ang mga ultrasonic flaw detector ay gumagana gamit ang mga ultrasonic signal mula 0.5 hanggang 10 MHz.
Ang mga pangunahing disadvantages ng mga pamamaraan ng ultrasonic ay kinabibilangan ng pangangailangan para sa isang sapat na mataas na kalinisan ng ibabaw ng mga bahagi at ang makabuluhang pag-asa ng kalidad ng kontrol sa mga kwalipikasyon ng operator ng flaw detector.
Magnetic na pamamaraan ay batay sa pagpaparehistro ng mga magnetic scattering field sa mga depekto o magnetic properties ng kinokontrol na bagay. Ginagamit ang mga ito upang makita ang mga depekto sa ibabaw at ilalim ng ibabaw sa mga bahagi ng iba't ibang mga hugis na gawa sa mga ferromagnetic na materyales.
Sa magnetic particle method, ang mga magnetic powder (dry method) o ang kanilang mga suspension (wet method) ay ginagamit upang makita ang magnetic leakage flux. Ang pagbuo ng materyal ay inilalapat sa ibabaw ng produkto. Sa ilalim ng impluwensya ng isang magnetic scattering field, ang mga particle ng pulbos ay puro malapit sa depekto. Ang hugis ng mga kumpol nito ay tumutugma sa balangkas ng depekto.
Ang kakanyahan ng pamamaraan ng magnetographic ay ang pag-magnetize ng produkto habang sabay na nagre-record ng magnetic field sa isang magnetic tape na sumasaklaw sa bahagi, at pagkatapos ay i-decipher ang impormasyong natanggap.
Ang mga magnetic na linya ng puwersa ng nagresultang patlang ay nakadirekta sa mga linya ng helical sa ibabaw ng produkto, na ginagawang posible upang makita ang mga depekto ng iba't ibang direksyon.
Pagkatapos ng inspeksyon, ang lahat ng mga bahagi, maliban sa mga may sira, ay na-demagnetize. Ang pagpapanumbalik ng mga di-demagnetized na bahagi sa pamamagitan ng mekanikal na pagproseso ay maaaring humantong sa pinsala sa mga gumaganang ibabaw dahil sa pagkahumaling ng mga chips. Hindi mo dapat i-demagnetize ang mga bahagi na napapailalim sa pag-init sa panahon ng pagpapanumbalik sa pamamagitan ng welding, surfacing at iba pang mga pamamaraan sa temperatura na 600...700 o C.
Ang antas ng demagnetization ay kinokontrol sa pamamagitan ng showering ang mga bahagi na may bakal na pulbos. Para sa well-demagnetized na mga bahagi, ang pulbos ay hindi dapat panatilihin sa ibabaw. Para sa parehong mga layunin, ginagamit ang mga aparatong may fluxgate pole detector.
Upang siyasatin ang mga bahagi gamit ang magnetic particle method, ang mga nakatigil, portable at mobile na mga flaw detector ay ginagawang komersyal. Ang huli ay kinabibilangan ng: kasalukuyang mga mapagkukunan, mga aparato para sa pagbibigay ng kasalukuyang, pag-magnetize ng mga bahagi at para sa paglalagay ng magnetic powder o suspension, mga kagamitan sa pagsukat ng elektrikal. Ang mga nakatigil na aparato ay nailalarawan sa pamamagitan ng mataas na kapangyarihan at pagganap. Ang lahat ng mga uri ng magnetization ay maaaring isagawa sa kanila.
Eddy kasalukuyang pamamaraan ay batay sa pagsusuri ng interaksyon ng isang panlabas na electromagnetic field sa electromagnetic field ng eddy currents na dulot ng isang exciting coil sa isang electrically conductive object.
Ginagawang posible ng mga pamamaraan ng Eddy current na makita ang mga depekto sa ibabaw, kabilang ang mga nasa ilalim ng isang layer ng metal at non-metallic coatings, kontrolin ang mga sukat ng coatings at mga bahagi (diameter ng mga bola, tubo, wire, kapal ng sheet, atbp.), matukoy ang pisikal at mekanikal na mga katangian ng mga materyales (tigas, istraktura, depth nitriding, atbp.), sukatin ang mga vibrations at paggalaw ng mga bahagi sa panahon ng pagpapatakbo ng makina.
Pagtuklas ng bahid ng mga bahagi mga pamamaraan ng radiation ay batay sa pagtatala ng paghina ng intensity ng radioactive radiation kapag dumadaan sa isang kinokontrol na bagay. Ang pinakakaraniwang ginagamit ay X-ray at γ-inspeksyon ng mga bahagi at welds. Ang industriya ay gumagawa ng parehong mga mobile X-ray machine para sa trabaho sa mga workshop at mga portable para sa trabaho sa field. Ang pagpaparehistro ng mga resulta ng pagsubaybay sa radiation ay isinasagawa nang biswal (mga larawan sa mga screen, kabilang ang mga stereoscopic na imahe), sa anyo ng mga de-koryenteng signal, at pag-record sa photographic film o plain paper (xeroradiography).
Mga kalamangan ng mga pamamaraan ng radiation: mataas na kalidad na kontrol, lalo na ang paghahagis, welds, ang estado ng mga saradong lukab ng mga elemento ng makina; posibilidad ng pagkumpirma ng dokumentaryo ng mga resulta ng kontrol, na hindi nangangailangan ng karagdagang pag-decode. Ang mga makabuluhang disadvantage ay ang pagiging kumplikado ng kagamitan at ang organisasyon ng trabaho na may kaugnayan sa pagtiyak ng ligtas na pag-iimbak at paggamit ng mga pinagmumulan ng radiation.
Mga pamamaraan ng radio wave ay batay sa pagtatala ng mga pagbabago sa mga electromagnetic oscillations na nakikipag-ugnayan sa kinokontrol na bagay. Sa pagsasagawa, ang mga ultra-high frequency (microwave) na pamamaraan ay naging laganap sa hanay ng wavelength mula 1 hanggang 100 mm. Ang pakikipag-ugnayan ng mga radio wave sa isang bagay ay tinatasa ng likas na katangian ng pagsipsip, diffraction, pagmuni-muni, repraksyon ng alon, mga proseso ng interference, at mga epekto ng resonance. Ang mga pamamaraan na ito ay ginagamit upang kontrolin ang kalidad at geometric na mga parameter ng mga produktong gawa sa mga plastik, fiberglass, thermal protective at thermal insulation na materyales, pati na rin upang sukatin ang vibration.
Mga pamamaraan ng thermal. Sa mga thermal na pamamaraan, ang thermal energy na nagpapalaganap sa isang bagay, na ibinubuga ng isang bagay, at hinihigop ng isang bagay ay ginagamit bilang isang diagnostic parameter. Ang patlang ng temperatura ng ibabaw ng isang bagay ay isang mapagkukunan ng impormasyon tungkol sa mga katangian ng mga proseso ng paglipat ng init, na, sa turn, ay nakasalalay sa pagkakaroon ng mga panloob at panlabas na mga depekto, paglamig ng bagay o bahagi nito bilang isang resulta ng paglabas ng isang medium, atbp.
Ang field ng temperatura ay sinusubaybayan gamit ang mga thermometer, temperature indicator, pyrometer, radiometer, infrared microscope, thermal imager at iba pang paraan.
Optical na pamamaraan. Ang optical non-destructive testing ay batay sa pagsusuri ng interaksyon ng optical radiation sa isang bagay. Upang makakuha ng impormasyon, ginagamit ang mga phenomena ng interference, diffraction, polarization, refraction, reflection, absorption, light scattering, pati na rin ang mga pagbabago sa mga katangian ng object ng pag-aaral mismo bilang resulta ng mga epekto ng photoconductivity, luminescence, photoelasticity at iba pa.
Ang mga depekto na nakita ng mga optical na pamamaraan ay kinabibilangan ng mga discontinuities, delaminations, pores, mga bitak, mga pagsasama ng mga dayuhang katawan, mga pagbabago sa istraktura ng mga materyales, mga corrosion cavity, paglihis ng geometric na hugis mula sa isang naibigay, pati na rin ang mga panloob na stress sa materyal.
Binibigyang-daan ka ng visual entroscopy na makakita ng mga depekto sa ibabaw ng isang bagay. Ang mga entroscope (mga video borescope) para sa panloob na pagsusuri sa mga lugar na mahirap maabot ng isang bagay ay may kasamang fiberglass probe, kung saan maaaring tumagos ang mananaliksik sa loob ng bagay, at isang screen para sa visual na pagmamasid sa ibabaw, pati na rin ang isang printer para sa video pag-record ng napagmasdan na ibabaw ng bagay. Ang paggamit ng optical quantum generators (lasers) ay ginagawang posible na palawakin ang mga hangganan ng tradisyonal na optical control method at lumikha ng panimula ng mga bagong pamamaraan ng optical control: holographic, acousto-optical.
Pamamaraan ng capillary Ang pagtuklas ng kapintasan ay batay sa pagpasok ng capillary ng mga likidong tagapagpahiwatig sa mga cavity ng ibabaw at sa pamamagitan ng mga discontinuities ng isang bagay, at ang pagpaparehistro ng resultang tagapagpahiwatig ay mga bakas na biswal o gamit ang isang transducer (sensor).
Ang mga pamamaraan ng capillary ay ginagamit upang makita ang mga depekto sa mga bahagi ng simple at kumplikadong mga hugis. Ginagawang posible ng mga pamamaraang ito na makita ang mga depekto ng produksyon, teknolohikal at operational na pinagmulan: mga nakakagiling na bitak, thermal crack, fatigue crack, hairline crack, sunset, atbp. Ang kerosene, colored, luminescent at radioactive na likido ay ginagamit bilang mga tumatagos na sangkap, at ang paraan ng ginagamit din ang mga napiling sinala na particle.
Kapag gumagamit ng mga may kulay na likido, ang pattern ng tagapagpahiwatig ay may kulay, kadalasang pula, na namumukod-tangi sa puting background ng developer - pagtuklas ng bahid ng kulay. Kapag gumagamit ng mga luminescent na likido, ang pattern ng tagapagpahiwatig ay nagiging malinaw na nakikita sa ilalim ng impluwensya ng ultraviolet rays - ang luminescent na paraan. Ang kontrol sa likas na katangian ng mga pattern ng tagapagpahiwatig ay isinasagawa gamit ang isang visual-optical na pamamaraan. Sa kasong ito, ang mga linya ng pattern ay medyo madaling napansin, dahil ang mga ito ay sampu-sampung beses na mas malawak at mas contrasting kaysa sa mga depekto.
Ang pinakasimpleng halimbawa ng penetrant flaw detection ay isang kerosene test. Ang tumatagos na likido ay kerosene. Ang nag-develop ay tisa sa anyo ng isang tuyong pulbos o isang may tubig na suspensyon. Ang kerosene, na tumatagos sa layer ng chalk, ay nagiging sanhi ng pagdidilim nito, na nakikita sa liwanag ng araw.
Ang mga bentahe ng penetrant flaw detection ay versatility sa mga tuntunin ng hugis at materyales ng mga bahagi, mahusay na kalinawan ng mga resulta, pagiging simple at mababang halaga ng mga materyales, mataas na pagiging maaasahan at mahusay na sensitivity. Sa partikular, ang pinakamababang sukat ng mga nakikitang bitak ay: lapad 0.001 - 0.002 mm, lalim 0.01 - 0.03 mm. Mga disadvantages: ang kakayahang makita lamang ang mga depekto sa ibabaw, ang mahabang tagal ng proseso (0.5 m - 1.5 na oras) at intensity ng paggawa (ang pangangailangan para sa masusing paglilinis), ang toxicity ng ilang matalim na likido, hindi sapat na pagiging maaasahan sa mga subzero na temperatura.
Ang mga bitak sa mga bahagi ay maaaring makita gamit ang isang pagsubok sa kerosene.
Ang kerosene ay may mahusay na kakayahang mabasa at tumagos nang malalim sa pamamagitan ng mga depekto na may diameter na higit sa 0.1 mm. Kapag kinokontrol ang kalidad ng mga welds, ang kerosene ay inilalapat sa isa sa mga ibabaw ng produkto, at isang adsorbent coating (350...450 g ng ground chalk suspension bawat 1 litro ng tubig) ay inilapat sa kabaligtaran na ibabaw. Ang pagkakaroon ng isang through crack ay tinutukoy ng mga dilaw na mantsa ng kerosene sa chalk coating.
Ang mga pamamaraan ng pagsusuri sa hydraulic at pneumatic ay malawakang ginagamit upang makilala sa pamamagitan ng mga pores at bitak.
Gamit ang haydroliko na pamamaraan, ang panloob na lukab ng produkto ay puno ng gumaganang likido (tubig), selyadong, ang labis na presyon ay nilikha gamit ang isang bomba at ang bahagi ay pinananatiling ilang oras. Ang pagkakaroon ng isang depekto ay nakikita sa pamamagitan ng hitsura ng mga patak ng tubig o pagpapawis sa panlabas na ibabaw.
Ang pneumatic na paraan para sa paghahanap sa pamamagitan ng mga depekto ay mas sensitibo kaysa sa haydroliko na pamamaraan, dahil ang hangin ay dumaan sa depekto nang mas madali kaysa sa likido. Ang naka-compress na hangin ay binomba sa panloob na lukab ng mga bahagi, at ang panlabas na ibabaw ay natatakpan ng solusyon ng sabon o ang bahagi ay nahuhulog sa tubig. Ang pagkakaroon ng isang depekto ay hinuhusgahan ng paglabas ng mga bula ng hangin. Ang presyon ng hangin na nabomba sa mga panloob na lukab ay nakasalalay sa mga tampok ng disenyo ng mga bahagi at kadalasang katumbas ng 0.05 - 0.1 MPa.
Ang mga pamamaraan ng hindi mapanirang pagsubok ay hindi pangkalahatan. Ang bawat isa sa kanila ay maaaring gamitin nang pinakamabisa upang makita ang mga partikular na depekto. Ang pagpili ng hindi mapanirang paraan ng pagsubok ay tinutukoy ng mga tiyak na kinakailangan ng pagsasanay at depende sa materyal, disenyo ng bagay na pinag-aaralan, ang estado ng ibabaw nito, mga katangian ng mga depekto na makikita, mga kondisyon ng pagpapatakbo ng bagay, mga kondisyon ng kontrol at teknikal at pang-ekonomiyang tagapagpahiwatig.
Ang mga depekto sa ibabaw at ilalim ng ibabaw sa ferromagnetic steels ay natutukoy sa pamamagitan ng pag-magnetize ng bahagi at pagre-record ng stray field gamit ang magnetic method. Ang parehong mga depekto sa mga produktong gawa mula sa mga non-magnetic na haluang metal, halimbawa, lumalaban sa init, hindi kinakalawang, ay hindi matukoy ng mga magnetic na pamamaraan. Sa kasong ito, halimbawa, ang electromagnetic na paraan ay ginagamit. Gayunpaman, ang pamamaraang ito ay hindi rin angkop para sa mga produktong plastik. Sa kasong ito, ang pamamaraan ng capillary ay lumalabas na epektibo. Ang pamamaraang ultrasonic ay hindi epektibo sa pagtukoy ng mga panloob na depekto sa mga istruktura ng cast at mga haluang metal na may mataas na antas ng anisotropy. Ang ganitong mga istraktura ay sinusubaybayan gamit ang X-ray o gamma ray.
Disenyo (hugis at sukat) ng mga bahagi tinutukoy din ang iyong
paraan ng pagkontrol ng boron. Kung halos lahat ng mga pamamaraan ay maaaring gamitin upang kontrolin ang isang bagay ng isang simpleng hugis, kung gayon ang paggamit ng mga pamamaraan upang kontrolin ang mga bagay ng isang kumplikadong hugis ay limitado. Ang mga bagay na may malaking bilang ng mga groove, grooves, ledges, at geometric transition ay mahirap kontrolin gamit ang mga pamamaraan tulad ng magnetic, ultrasonic, at radiation. Ang mga malalaking bagay ay sinusubaybayan sa mga bahagi, na tinutukoy ang mga pinaka-mapanganib na lugar.
Kondisyon sa ibabaw produkto, kung saan ang ibig naming sabihin ay ang pagkamagaspang nito at ang pagkakaroon ng mga proteksiyon na patong at mga kontaminant dito, ay makabuluhang nakakaimpluwensya sa pagpili ng paraan at paghahanda ng ibabaw para sa pananaliksik. Ang magaspang na magaspang na ibabaw ay hindi kasama ang paggamit ng mga capillary method, ang eddy current method, magnetic at ultrasonic na pamamaraan sa contact version. Ang mababang pagkamagaspang ay nagpapalawak ng mga kakayahan ng mga pamamaraan ng defetoscopy. Ang mga ultrasonic at capillary na pamamaraan ay ginagamit para sa pagkamagaspang sa ibabaw na hindi hihigit sa 2.5 microns, magnetic at eddy current na pamamaraan - hindi hihigit sa 10 microns. Ang mga proteksiyon na patong ay hindi pinapayagan ang paggamit ng mga optical, magnetic at capillary na pamamaraan. Magagamit lamang ang mga pamamaraang ito pagkatapos maalis ang patong. Kung imposible ang naturang pag-alis, ginagamit ang mga pamamaraan ng radiation at ultrasound. Gamit ang electromagnetic na paraan, ang mga bitak ay nakikita sa mga bahaging may pintura at iba pang non-metallic coatings na hanggang 0.5 mm ang kapal at non-metallic non-magnetic coatings na hanggang 0.2 mm ang kapal.
Ang mga depekto ay may iba't ibang pinanggalingan at naiiba sa uri, sukat, lokasyon, at oryentasyong nauugnay sa hibla ng metal. Kapag pumipili ng isang paraan ng kontrol, dapat mong pag-aralan ang likas na katangian ng posibleng mga depekto. Sa pamamagitan ng lokasyon, ang mga depekto ay maaaring panloob, na matatagpuan sa lalim na higit sa 1 mm, ilalim ng ibabaw (sa lalim na hanggang 1 mm) at mababaw. Upang makita ang mga panloob na depekto sa mga produktong bakal, ang mga pamamaraan ng radiation at ultrasonic ay madalas na ginagamit. Kung ang mga produkto ay may medyo maliit na kapal, at ang mga depekto na makikita ay medyo malaki, pagkatapos ay mas mahusay na gumamit ng mga pamamaraan ng radiation. Kung ang kapal ng produkto sa direksyon ng paghahatid ay higit sa 100-150 mm o kinakailangan upang makita ang mga panloob na depekto dito sa anyo ng mga bitak o manipis na mga delaminasyon, kung gayon hindi ipinapayong gumamit ng mga pamamaraan ng radiation, dahil ang mga sinag. huwag tumagos sa ganoong lalim at ang kanilang direksyon ay patayo sa direksyon ng mga bitak. Sa kasong ito, ang pagsusuri sa ultrasonic ay pinakaangkop.
Ang pagtuklas ng bahid ay isang modernong paraan ng diagnostic na nagbibigay-daan sa iyo upang makilala ang mga depekto sa hinang at panloob na mga istraktura ng mga materyales nang hindi sinisira ang mga ito. Ang pamamaraang diagnostic na ito ay ginagamit upang suriin ang kalidad ng mga welds at upang matukoy ang lakas ng mga elemento ng metal. Pag-usapan natin nang mas detalyado ang tungkol sa iba't ibang paraan ng pagtuklas ng kapintasan.
Kapag nagsasagawa ng welding work, hindi laging posible na matiyak ang isang mataas na kalidad na koneksyon, na humahantong sa isang pagkasira sa lakas ng mga elemento ng metal na ginawa. Upang matukoy ang pagkakaroon ng naturang mga depekto, ginagamit ang mga espesyal na kagamitan na maaaring makakita ng mga paglihis sa istraktura o komposisyon ng materyal na sinusuri. Sinusuri ng flaw detection ang mga pisikal na katangian ng mga materyales sa pamamagitan ng paglalantad sa kanila sa infrared at x-ray radiation, radio wave at ultrasonic vibrations. Ang nasabing pananaliksik ay maaaring isagawa kapwa biswal at gamit ang mga espesyal na optical na instrumento. Ang mga modernong kagamitan ay nagpapahintulot sa amin na matukoy ang pinakamaliit na mga paglihis sa pisikal na istraktura ng materyal at makilala kahit na ang mga mikroskopikong depekto na maaaring makaapekto sa lakas ng koneksyon.
Dapat sabihin na ang iba't ibang mga pamamaraan ng pagtuklas ng kapintasan ay may kanilang mga pakinabang at disadvantages. Mahalagang piliin nang tama ang pinakamainam na teknolohiya para sa bawat partikular na welded joint, na titiyakin ang pinakamataas na katumpakan sa pagtukoy ng mga umiiral na depekto sa mga metal na haluang metal at welds.
Sa mga nagdaang taon, ang teknolohiya ng ultrasonic flaw detection ay naging pinakalaganap, na maraming nalalaman sa paggamit at nagbibigay-daan sa iyo upang tumpak na matukoy ang mga umiiral na inhomogeneities sa istruktura. Tandaan natin ang pagiging compact ng kagamitan para sa ultrasonic flaw detection, ang pagiging simple ng gawaing isinagawa at ang pagiging produktibo ng naturang mga diagnostic. Sa kasalukuyan, may mga espesyal na pag-install para sa ultrasonic flaw detection, na ginagawang posible na makita ang mga depekto na may isang lugar na isang square millimeter.
Sa tulong ng naturang multifunctional na modernong kagamitan, posible na matukoy hindi lamang ang mga umiiral na pinsala at mga depekto, kundi pati na rin upang makontrol ang kapal ng materyal hanggang sa ilang milimetro ng kapal. Ito ay nagbibigay-daan sa amin upang makabuluhang palawakin ang saklaw ng paggamit ng naturang kagamitan para sa pagtukoy ng kapintasan, ang pag-andar nito ay lumawak nang malaki sa mga nakaraang taon.
Ang paggamit ng naturang pananaliksik sa proseso ng produksyon at ang kasunod na pagsubaybay sa mga produktong metal welded na ginagamit ay ginagawang posible upang mabawasan ang oras at pera na ginugol sa kontrol ng kalidad ng mga manufactured na materyales at upang mas tumpak na matukoy ang kondisyon ng iba't ibang mga bahagi ng metal sa panahon ng kanilang operasyon.
*Ang impormasyon ay nai-post para sa mga layuning pang-impormasyon; upang pasalamatan kami, ibahagi ang link sa pahina sa iyong mga kaibigan. Maaari kang magpadala ng materyal na kawili-wili sa aming mga mambabasa. Ikalulugod naming sagutin ang lahat ng iyong mga tanong at mungkahi, pati na rin marinig ang mga kritisismo at mungkahi sa [email protected]
Ang flaw detection ay isang modernong paraan ng pagsubok at diagnostics. Ito ay isang napaka-epektibong tool para sa pagtukoy ng mga depekto sa iba't ibang mga materyales. Ang pamamaraan ay batay sa iba't ibang antas ng pagsipsip ng X-ray ng bagay. Ang antas ng pagsipsip ay depende sa density ng materyal at ang atomic na bilang ng mga elementong kasama sa komposisyon nito. Ginagamit ang flaw detection sa iba't ibang larangan ng aktibidad ng tao: upang makita ang mga bitak sa mga huwad na bahagi ng makina, kapag sinusuri ang kalidad ng bakal, welds, at welding. Ang pamamaraang ito ay malawakang ginagamit upang suriin ang pagiging bago ng mga pananim na gulay at prutas.
Ang flaw detection ay isang pinag-isang pangalan para sa ilang paraan ng hindi mapanirang pagsubok ng mga materyales, elemento at produkto. Ginagawa nilang posible na makita ang mga bitak, mga paglihis sa komposisyon ng kemikal, mga dayuhang bagay, pamamaga, porosity, paglabag sa homogeneity, tinukoy na mga sukat at iba pang mga depekto. Ang pagbili ng kagamitan para sa pagtukoy ng kapintasan sa ASK-ROENTGEN website ay maginhawa at simple. Ang ganitong mga aparato ay hinihiling sa mga negosyo na gumagawa ng iba't ibang mga produkto. Kasama sa pagtuklas ng kapintasan ang maraming paraan:
Mayroong maraming mga pamamaraan ng pagtuklas ng kapintasan. Lahat sila ay nagsisilbi sa isang layunin - pagtukoy ng mga depekto. Gamit ang flaw detection, sinusuri ang istraktura ng mga materyales at sinusukat ang kapal. Ang paggamit ng E` sa mga proseso ng produksyon ay nagbibigay-daan sa iyo upang makakuha ng nasasalat na epekto sa ekonomiya. Pinapayagan ka ng flaw detection na i-save ang metal. Nakakatulong ito na maiwasan ang pagkasira ng mga istruktura, pagtaas ng tibay at pagiging maaasahan.
Ang kontrol sa kalidad ng produksyon at konstruksyon ay dapat isagawa sa bawat yugto. Minsan ito ay kinakailangan upang suriin ang pagpapatakbo ng isang bagay sa panahon ng operasyon. Ang isang aparato na tumutulong sa pagsasagawa ng ganitong uri ng pagsusuri gamit ang isang hindi mapanirang paraan ay tinatawag na flaw detector. Mayroong isang malaking bilang ng mga uri ng mga detektor ng kapintasan. Magkaiba sila sa prinsipyo at layunin ng pagpapatakbo. Matutunan ang pinakasikat na paraan ng pagtuklas ng kapintasan at mga kapaki-pakinabang na rekomendasyon para sa pagpili ng device upang hindi ka magkamali kapag pumipili at mabilis na makabisado ang trabaho.
Depende sa layunin ng pagtuklas ng kapintasan at ang lugar ng aplikasyon nito, ang paraan ng pagtukoy ng pinsala at mga depekto, kung saan nakabatay ang gawain ng isang partikular na flaw detector, ay nagbabago nang radikal.
Eddy kasalukuyang uri ng device
Ang flaw detection ay isang aktibidad na naglalayong tukuyin ang lahat ng posibleng paglihis mula sa disenyo at mga pamantayan sa panahon ng paggawa o pagpapatakbo ng pasilidad. Ang pagtuklas ng kapintasan ay nakakatulong upang matukoy ang isang malfunction bago pa ito madama. Sa ganitong paraan, posible na maiwasan ang mga mekanikal na pagkasira, pagkasira ng istruktura at mga aksidente sa industriya.
Ang flaw detector ay isang device na idinisenyo upang suriin at tukuyin ang mga depekto sa ibabaw o sa katawan ng iba't ibang produkto. Ang mga depekto ay maaaring magkakaiba. Ang ilang mga aparato ay kinakailangan upang makita ang mga bakas ng kaagnasan, ang iba ay upang maghanap ng mga cavity, pagnipis, mga pagkakaiba sa laki at iba pang pisikal at mekanikal na mga depekto, at ang iba pa ay maaaring matukoy ang mga depekto sa antas ng molekular na istraktura - makahanap ng mga pagbabago sa istraktura ng katawan, nito komposisyong kemikal.
Flaw detector na may electronic display
Ang flaw detector ay kabilang sa klase ng mga device sa ilalim ng pangkalahatang pangalan na "hindi mapanirang paraan ng pagsubok". Sa panahon ng proseso ng produksyon, ang mga produkto ay madalas na napapailalim sa iba't ibang mga pagsusuri. Ang ilang mga bahagi ay nasubok sa mga laboratoryo, kung saan ang kanilang margin ng lakas at kakayahang makatiis sa lahat ng uri ng mga karga at impluwensya ay tinutukoy. Ang kawalan ng diskarteng ito ay na ito ay isinasagawa nang pili at hindi ginagarantiyahan ang 100% na kalidad ng lahat ng mga produkto.
Mga diagnostic ng pipeline
Ang hindi mapanirang pagsubok, na kinabibilangan ng pagsubok gamit ang isang flaw detector, ay nagbibigay-daan sa iyong masuri ang kondisyon ng isang partikular na produkto o elemento ng istruktura sa site at nang walang pagsubok. Ang tool ay kailangang-kailangan sa mga sumusunod na industriya:
Hindi mapanirang pagsubok sa paggawa ng sasakyang panghimpapawid
Ang isang flaw detector ay ginagamit upang suriin ang kalidad ng koneksyon (ito ay lalong mahalaga para sa welding high-pressure pipelines), ang kondisyon ng istraktura sa konstruksiyon (metal, reinforced concrete), ang antas ng pagsusuot ng mekanismo, at ang presensya ng pinsala sa bahagi. Sa halos lahat ng mga industriya kung saan mahalagang subaybayan ang kondisyon at pagsunod sa mga pamantayan ng mga solidong elemento, iba't ibang mga detektor ng kapintasan ang ginagamit.
Depende sa paraan ng pagsubok, ang mga sumusunod na uri ng flaw detector ay nakikilala:
Ultrasonic flaw detector control panel
Mahirap ihambing ang mga ito; iba sila sa istraktura, operasyon at maging sa hitsura na sila ay nagkakaisa lamang sa kanilang layunin. Imposibleng iisa ang isa sa mga device at kumpiyansa na sabihin na ito ang pinakamahusay, unibersal at papalitan ang lahat ng iba pa. Samakatuwid, kapag pumipili, mahalaga na huwag gumawa ng mga padalus-dalos na pagpapasya at huwag bilhin ang unang modelo na iyong nakita.
Ang pinakasikat na flaw detector na maaaring gamitin upang magsagawa ng hindi mapanirang pagsubok ay ang: ultrasonic (acoustic), magnetic at eddy current. Ang mga ito ay compact, mobile at madaling patakbuhin at maunawaan ang prinsipyo. Ang iba ay hindi gaanong ginagamit, ngunit ang bawat isa ay matatag na sumasakop sa angkop na lugar nito bukod sa iba pang mga tool sa pagtuklas ng kapintasan.
Mga uri ng pagtuklas ng kapintasan
Ang isang acoustic flaw detector ay isang konsepto na pinagsasama ang mga hindi mapanirang pagsubok na aparato na katulad sa pangkalahatang prinsipyo. Ang acoustic flaw detection ay batay sa mga katangian ng sound wave. Ito ay kilala mula sa isang kurso sa pisika ng paaralan na ang mga pangunahing parameter ng isang alon ay hindi nagbabago kapag gumagalaw sa isang homogenous na daluyan. Gayunpaman, kung ang isang bagong daluyan ay lilitaw sa landas ng alon, ang dalas at haba nito ay nagbabago.
Kung mas mataas ang dalas ng tunog, mas tumpak ang resulta, kaya ginagamit ang mga ultrasonic wave mula sa buong hanay. Ang isang ultrasonic flaw detector ay naglalabas ng mga sound wave na dumadaan sa bagay na sinusuri. Kung may mga cavity, inclusions ng iba pang mga materyales o iba pang mga depekto, ang ultrasonic wave ay tiyak na ipahiwatig ang mga ito sa pamamagitan ng pagbabago ng mga parameter.
Ang lahat ng mga resulta ay dapat na naka-log
Ang mga ultrasonic flaw detector na tumatakbo sa prinsipyo ng pamamaraan ng echo ay ang pinakakaraniwan at abot-kayang. Ang isang ultrasonic wave ay tumagos sa isang bagay; kung walang nakitang mga depekto, walang pagmumuni-muni na nangyayari, at naaayon, ang aparato ay hindi nakakakuha o nagtatala ng anuman. Kung ang isang pagmuni-muni ng ultrasound ay nangyayari, ito ay nagpapahiwatig ng pagkakaroon ng isang depekto. Ang ultrasound generator ay isa ring receiver, na napaka-maginhawa at pinapadali ang pagtuklas ng kapintasan.
Ultrasonic na uri ng mini model
Ang paraan ng salamin ay katulad ng echo, ngunit gumagamit ng dalawang device - isang receiver at isang transmitter. Ang bentahe ng pamamaraang ito ay ang parehong mga aparato ay matatagpuan sa parehong bahagi ng bagay, na nagpapadali sa pag-install, pagsasaayos at proseso ng pagsukat.
Hiwalay, may mga pamamaraan para sa pagsusuri ng ultrasound na dumaan mismo sa isang bagay. Ginagamit ang konsepto ng "sound shadow". Kung mayroong isang depekto sa loob ng bagay, ito ay nag-aambag sa isang matalim na pagpapalambing ng mga vibrations, iyon ay, lumilikha ito ng isang anino. Ang paraan ng anino ng ultrasonic flaw detection ay batay sa prinsipyong ito, kapag ang generator at vibration receiver ay matatagpuan sa parehong acoustic axis mula sa iba't ibang panig.
Pagsubok sa ultrasoniko
Ang mga disadvantages ng naturang aparato ay mayroong mahigpit na mga kinakailangan para sa laki, pagsasaayos at maging ang antas ng pagkamagaspang sa ibabaw ng elementong sinusuri, na ginagawang hindi ganap na unibersal ang aparato.
Ang French physicist na si Jean Foucault ay nagtalaga ng higit sa isang taon sa pag-aaral ng eddy currents (Foucault currents), na lumilitaw sa mga conductor kapag ang isang alternating magnetic field ay nilikha malapit sa kanila. Batay sa katotohanan na kung mayroong isang depekto sa katawan, ang parehong mga eddy currents ay lumikha ng kanilang sarili - isang pangalawang magnetic field, ang eddy current na mga aparato ay nagsasagawa ng flaw detection.
Ang isang eddy current flaw detector ay lumilikha ng isang paunang alternating magnetic field, ngunit isang pangalawang field, na ginagawang posible upang makilala at pag-aralan ang isang depekto sa isang bagay, ay lumitaw bilang isang resulta ng electromagnetic induction. Nakikita ng flaw detector ang pangalawang field, nagtatala ng mga parameter nito at gumagawa ng konklusyon tungkol sa uri at kalidad ng depekto.
Ang pagganap ng aparatong ito ay mataas, ang pagsusuri ay isinasagawa nang mabilis. Gayunpaman, ang mga eddy currents ay maaari lamang lumitaw sa mga materyales na iyon na mga conductor, kaya ang saklaw ng aplikasyon ng naturang aparato ay mas makitid kaysa sa mga analogue nito.
Ang aparato ay nagdudulot ng eddy currents sa materyal
Ang isa pang karaniwang paraan ng pagtuklas ng kapintasan ay ang pagsubok ng magnetic particle. Ginagamit ito upang suriin ang mga welded joints, ang kalidad ng proteksiyon na layer, ang pagiging maaasahan ng mga pipeline, at iba pa. Ang pamamaraang ito ay lalo na pinahahalagahan para sa pagsuri ng mga kumplikadong hugis na elemento at mga lugar na mahirap abutin ng ibang mga instrumento.
Ang prinsipyo ng pagpapatakbo ng isang magnetic flaw detector ay batay sa mga pisikal na katangian ng mga ferromagnetic na materyales. May kakayahan silang maging magnet. Paggamit ng mga permanenteng magnet o mga espesyal na aparato na maaaring lumikha ng isang longitudinal o pabilog na magnetic field.
Matapos ilantad ang isang lugar ng isang bagay sa isang magnet, ang isang tinatawag na reagent - magnetic powder - ay inilapat dito gamit ang isang tuyo o basa na pamamaraan. Sa ilalim ng impluwensya ng isang magnetic field na lumitaw bilang isang resulta ng magnetization, ang pulbos ay konektado sa mga chain, nakabalangkas at bumubuo ng isang malinaw na pattern sa ibabaw sa anyo ng mga hubog na linya.
Magnetization gamit ang isang espesyal na aparato
Ang figure na ito ay malinaw na nagpapakita ng pagpapatakbo ng isang magnetic field. Alam ang mga tampok at pangunahing mga parameter nito, gamit ang isang magnetic flaw detector matutukoy mo kung saan matatagpuan ang depekto. Bilang isang patakaran, ang isang binibigkas na akumulasyon ng pulbos ay sinusunod nang direkta sa itaas ng kapintasan (crack o cavity). Upang matukoy ang mga katangian ng depekto, ang resultang imahe ay sinusuri laban sa isang pamantayan.
Magnetic powder sa spray
Ang mga pamamaraan ng pagtuklas ng kapintasan ay pinapabuti bawat taon. Lumilitaw ang mga bagong pamamaraan, ang iba ay unti-unting nagiging lipas na. Maraming mga flaw detector ang may mas espesyal na layunin at ginagamit lamang sa ilang mga industriya.
Ang prinsipyo ng pagpapatakbo ng isang fluxgate flaw detector ay batay sa pagtatasa ng mga impulses na nabuo kapag ang aparato ay gumagalaw kasama ang isang bagay. Ginagamit ito sa metalurhiya, sa paggawa ng pinagsamang metal at sa pagsusuri ng mga welded joints.
Ang radiation flaw detector ay nag-iilaw sa isang bagay gamit ang mga x-ray, alpha, beta, gamma radiation o neutron. Bilang resulta, ang isang detalyadong snapshot ng elemento ay nakuha kasama ang lahat ng mga depekto at inhomogeneities na naroroon. Ang pamamaraan ay mahal, ngunit napaka-kaalaman.
Nakikita ng isang capillary flaw detector ang mga bitak sa ibabaw at mga discontinuities bilang resulta ng pagkakalantad ng bagay sa isang espesyal na nabubuong substance. Ang resulta ay sinusuri nang biswal. Ang penetrant flaw detection ay kadalasang ginagamit sa mechanical engineering, aviation, at shipbuilding.
Sa industriya ng enerhiya, ginagamit ang isang electron-optical flaw detector upang pag-aralan ang operasyon at tukuyin ang mga imperpeksyon ng mga elemento sa ilalim ng mataas na boltahe. Nagagawa nitong tuklasin ang pinakamaliit na pagbabago sa corona at surface partial discharges, na ginagawang posible na suriin ang pagpapatakbo ng kagamitan nang hindi ito tumitigil - nang malayuan.
Mga larawan sa pagtuklas ng bahid ng radiation
Ang mga pangunahing parameter na dapat mong bigyang-pansin kapag pumipili ng flaw detector ng anumang uri:
Magnetic particle device MD-M
Iba-iba ang iba't ibang modelo sa hanay ng pagsukat. Nangangahulugan ito na ang ilan ay nakakakita ng mga depekto na 1 micron, habang ang limitasyon para sa iba ay 10 mm, halimbawa. Kung sa mechanical engineering microcracks sa mga bahagi ay may mahalagang papel, kung gayon para sa pagtuklas ng kapintasan sa konstruksiyon ay walang punto sa pagbili ng isang ultra-tumpak na aparato.
Gayundin, dapat ipahiwatig ng tagagawa para sa kung anong mga materyales ang inilaan ng isang partikular na detektor ng kapintasan, at kung anong uri ng mga depekto ang dapat nitong makita. Maaaring may mga kinakailangan para sa likas na katangian ng ibabaw ng elemento, ang pagkakaroon ng isang proteksiyon na layer, ang laki at hugis ng bagay.
Ang parameter na "pagganap" ay tumutukoy sa bilis ng pag-scan at ang dami ng trabahong maaaring gawin sa bawat yunit ng oras gamit ang isang partikular na flaw detector. Kaya, ang eddy current at fluxgate na pamamaraan ay nagbibigay ng mataas na bilis, habang ang proseso ng magnetization at pagproseso ng bawat indibidwal na seksyon na may magnetic tool ay maaaring tumagal ng medyo mahabang panahon.
Ang isang mahalagang detalye ay ang pag-install. Kapag pumipili ng modelo ng flaw detector, makatuwirang isipin kung gaano katagal at kung gaano kahirap i-install ito. Ang mga hand-held na mobile device na maaaring kunin sa isang bag anumang oras ay mas mainam para sa on-duty na pagtukoy ng kapintasan sa panahon ng paggawa o pag-install. Ang mas kumplikado at tumpak na kagamitan ay nangangailangan ng matagal na pag-install at pag-setup.
Ang ultrasonic device ay nangangailangan ng pagsasaayos bago simulan ang trabaho.
Dahil ang hindi mapanirang pagsubok ay maaaring isagawa sa loob at labas, kabilang ang taglamig, suriin nang maaga kung ang napiling aparato ay maaaring patakbuhin sa mga sub-zero na temperatura. Kinakailangan din na malaman kung pinapayagan na magsagawa ng mga diagnostic sa isang agresibong kapaligiran, kung kinakailangan.
Ang pag-alam kung paano gumagana ang isang flaw detector ng isang uri o iba pa, madali kang makapagpasya sa pangunahing bagay - ang paraan ng pagtuklas ng kapintasan. Tutulungan ka ng isang bihasang consultant na magpasya sa modelo.
DEFECTOSCOPY(mula sa Latin defectus - kakulangan, kapintasan at Greek skopeo - pagsusuri, pagmamasid) - kumplikadong pisikal. mga pamamaraan at paraan ng hindi mapanirang kontrol sa kalidad ng mga materyales, workpiece at produkto upang makita ang mga depekto sa kanilang istraktura. Ginagawang posible ng mga pamamaraan ng D. na mas ganap na masuri ang kalidad ng bawat produkto nang hindi sinisira ito at upang magsagawa ng tuluy-tuloy na kontrol, na lalong mahalaga para sa mga responsableng produkto. mga layunin kung saan hindi sapat ang mga piling mapanirang pamamaraan ng pagsubok.
Pagkabigong sumunod sa mga tinukoy na teknikal na pamantayan. mga parameter kapag nagpoproseso ng mga kumplikadong kemikal na materyales. at komposisyon ng bahagi, pagkakalantad sa mga agresibong kapaligiran at mga kondisyon ng pagpapatakbo. Ang mga naglo-load sa panahon ng pag-iimbak ng produkto at sa panahon ng operasyon nito ay maaaring humantong sa hitsura ng agnas sa materyal ng produkto. uri ng mga depekto - mga paglabag sa pagpapatuloy o homogeneity, mga paglihis mula sa isang naibigay na kemikal. komposisyon, istraktura o mga sukat na pumipinsala sa mga katangian ng pagganap ng produkto. Depende sa laki ng depekto sa lugar ng lokasyon nito, nagbabago ang mga pisikal na parameter. mga katangian ng materyal - density, electrical conductivity, magnetic, nababanat na mga katangian, atbp.
D. ang mga pamamaraan ay batay sa pagsusuri ng mga pagbaluktot na ipinakilala ng isang depekto sa mga pisikal na sangkap na nakakabit sa kinokontrol na produkto. field divers. kalikasan at ang pag-asa ng mga resultang field sa mga katangian, istraktura at geometry ng produkto. Ang impormasyon tungkol sa resultang field ay nagpapahintulot sa isa na hatulan ang pagkakaroon ng isang depekto, ang mga coordinate at laki nito.
Kasama sa D. ang pagbuo ng mga hindi mapanirang pamamaraan at kagamitan sa pagsubok - mga detektor ng kapintasan, mga aparato para sa pagsubok, mga sistema para sa pagproseso at pagtatala ng impormasyong natanggap. Ginagamit ang optical, radiation, magnetic, acoustic, el-magnetic. (eddy current), electric at iba pang pamamaraan.
Ang Optical D. ay batay sa direktang. pag-inspeksyon sa ibabaw ng produkto gamit ang mata (biswal) o gamit ang isang optical lens. mga instrumento (magnifying glass, mikroskopyo). Upang siyasatin ang panloob ang mga ibabaw, malalalim na cavity at mahirap maabot na mga lugar ay gumagamit ng espesyal. Ang mga endoscope ay mga diopter tubes na naglalaman ng magaan na gabay gawa sa fiber optics, nilagyan ng mga miniature illuminator, prisms at lens. Optical na pamamaraan D. sa nakikitang hanay, posibleng makakita lamang ng mga depekto sa ibabaw (mga bitak, pelikula, atbp.) mga depekto - sa mga transparent. Min. ang laki ng depekto na nakikita sa paningin sa mata ay 0.1-0.2 mm, kapag gumagamit ng optical. mga sistema - sampu-sampung microns. Upang kontrolin ang geometry ng mga bahagi (halimbawa, profile ng thread, pagkamagaspang sa ibabaw), ginagamit ang mga projector, profilometer at microinterferometer. Bagong pagpapatupad ng optical Ang isang paraan na maaaring makabuluhang taasan ang resolution nito ay laser diffraction, na gumagamit ng diffraction ng isang magkakaugnay na laser beam na may indikasyon gamit ang mga photoelectronic na aparato. Kapag nag-automate ng optical Ang paraan ng pagkontrol ay ginagamit ng telebisyon. paghahatid ng imahe.
Ang radiation ng radiation ay batay sa pag-asa ng pagsipsip ng tumagos na radiation sa haba ng landas na nilakbay nito sa materyal ng produkto, sa density ng materyal at ang atomic na bilang ng mga elemento na kasama sa komposisyon nito. Ang pagkakaroon ng mga discontinuities sa produkto, mga dayuhang pagsasama, mga pagbabago sa density at kapal ay humahantong sa agnas. pagpapahina ng mga sinag sa iba't ibang mga seksyon nito. Sa pamamagitan ng pagrehistro ng intensity distribution ng transmitted radiation, posible na makakuha ng impormasyon tungkol sa panloob istraktura ng produkto, kabilang ang paghusga sa presensya, pagsasaayos at mga coordinate ng mga depekto. Sa kasong ito, maaaring gamitin ang penetrating radiation ng iba't ibang uri. tigas: x-ray radiation na may enerhiya na 0.01-0.4 MeV; radiation na natanggap sa linear (2-25 MeV) at cyclic. (betatron, microtron 4-45 MeV) accelerators o sa isang ampoule na may -active radioisotopes (0.1-1 MeV); gamma radiation na may lakas na 0.08-1.2 MeV; neutron radiation na may energies na 0.1-15 MeV.
Ang pagpaparehistro ng intensity ng transmitted radiation ay isinasagawa nang hiwalay. mga paraan - photographic. paraan sa pagkuha ng imahe ng isang transiluminated na produkto sa photographic film (film radiography), sa reusable xeroradiographic. plato (electroradiography); biswal, pagmamasid sa mga larawan ng transilluminated na produkto sa isang fluorescent screen (radioscopy); gamit ang electron-optical mga converter (x-ray television); pagsukat ng intensity ng radiation espesyal. mga tagapagpahiwatig, ang pagkilos nito ay batay sa ionization ng gas sa pamamagitan ng radiation (radiometry).
Pagkasensitibo ng mga pamamaraan ng radiation. D. ay tinutukoy ng ratio ng lawak ng isang depekto o zone na may ibang density sa direksyon ng paghahatid sa kapal ng produkto sa seksyong ito at para sa decomp. ang mga materyales ay mula 1 hanggang 10% ng kapal nito. Paglalapat ng X-ray D. mabisa para sa mga produkto cf. kapal (bakal hanggang ~80 mm, magaan na haluang metal hanggang ~250 mm). Ang ultra-hard radiation na may lakas na sampu-sampung MeV (betatron) ay ginagawang posible upang maipaliwanag ang mga produktong bakal na hanggang ~500 mm ang kapal. Gamma-D. nailalarawan sa pamamagitan ng isang mas malawak na compactness ng pinagmulan ng radiation, na ginagawang posible upang makontrol ang mahirap maabot na mga lugar ng mga produkto hanggang sa ~250 mm makapal (bakal), bukod pa rito, sa mga kondisyon kung saan ang X-ray. D. mahirap. Neutron D. max. epektibo para sa pagsubok ng mga manipis na produkto na gawa sa mababang density na materyales. Ang isa sa mga bagong paraan ng X-ray control ay ang pagkalkula. tomography batay sa radiometric processing. impormasyon gamit ang isang computer, na nakuha sa pamamagitan ng paulit-ulit na pag-scan ng mga produkto sa iba't ibang anggulo. Sa kasong ito, posible na mailarawan ang mga layer ng panloob na mga imahe. istraktura ng produkto. Kapag nagtatrabaho sa mga mapagkukunan ng ionizing radiation, naaangkop na biol. proteksyon.
Ang radio wave D. ay batay sa mga pagbabago sa mga electromagnetic na parameter. waves (amplitude, phase, direksyon ng polarization vector) ng sentimetro at millimeter range kapag nagpapalaganap sila sa mga produktong gawa sa dielectric na materyales (plastik, goma, papel).
Ang pinagmumulan ng radiation (karaniwang magkakaugnay, polarized) ay isang microwave generator (magnetron, klystron) ng mababang kapangyarihan, na nagpapakain ng waveguide o espesyal. antenna (probe) na nagpapadala ng radiation sa kinokontrol na produkto. Ang parehong antenna, kapag tumatanggap ng sinasalamin na radiation, o isang katulad, na matatagpuan sa kabaligtaran ng produkto, kapag tumatanggap ng transmitted radiation, ay nagbibigay ng natanggap na signal sa pamamagitan ng isang amplifier sa indicator. Ang sensitivity ng pamamaraan ay nagbibigay-daan sa iyo upang makita ang mga delamination na may isang lugar na 1 cm 2 sa dielectrics sa lalim na hanggang sa 15-20 mm, sukatin ang kahalumigmigan na nilalaman ng papel, mga bulk na materyales na may error na mas mababa sa 1%, at ang kapal ng mga metal na materyales. sheet na may error na mas mababa sa 0.1 mm, atbp. Posibleng maisalarawan ang imahe ng kinokontrol na lugar sa screen (radio imager), ayusin ito sa photographic na papel, pati na rin gumamit ng holographic. mga paraan ng pagkuha ng mga larawan.
Thermal (infrared) D. ay batay sa pag-asa ng temperatura ng ibabaw ng katawan sa parehong nakatigil at hindi nakatigil na mga patlang sa pagkakaroon ng isang depekto at heterogeneity ng istraktura ng katawan. Sa kasong ito, ginagamit ang IR radiation sa mababang hanay ng temperatura. Ang pamamahagi ng temperatura sa ibabaw ng kinokontrol na produkto, na nagmumula sa ipinadala, sinasalamin o self-radiation, ay isang IR na imahe ng isang partikular na lugar ng produkto. Sa pamamagitan ng pag-scan sa ibabaw gamit ang isang radiation receiver na sensitibo sa IR rays (isang thermistor o pyroelectric), sa screen ng device (thermal imager) maaari mong obserbahan ang buong cut-off o kulay na imahe, ang pamamahagi ng temperatura sa mga seksyon, o, sa wakas. , pumili ng seksyon. isotherms. Ang sensitivity ng mga thermal imager ay nagbibigay-daan sa pagtatala ng pagkakaiba sa temperatura na mas mababa sa 1 o C sa ibabaw ng isang produkto. Ang sensitivity ng pamamaraan ay depende sa ratio ng laki d depekto o heterogeneity sa lalim l ang paglitaw nito ay tinatayang bilang ( d/l) 2, pati na rin sa thermal conductivity ng materyal ng produkto (inversely proportional relationship). Gamit ang thermal method, posible na kontrolin ang mga produkto na nagpapainit (cool) sa panahon ng operasyon.
Magnetic D. ay maaari lamang gamitin para sa mga produktong ferromagnetic. haluang metal at ibinebenta sa dalawang bersyon. Ang una ay batay sa pagsusuri ng mga magnetic parameter. naliligaw na mga patlang na nagmumula sa mga zone ng lokasyon ng mga depekto sa ibabaw at ilalim ng ibabaw sa mga magnetized na produkto, ang pangalawa - sa pagtitiwala ng magnetic. mga katangian ng mga materyales mula sa kanilang istraktura at kimika. komposisyon.
Kapag sinusuri gamit ang unang paraan, ang produkto ay na-magnetize gamit ang mga electromagnet, solenoid, sa pamamagitan ng pagpasa ng kasalukuyang sa produkto o isang baras na dumaan sa isang butas sa produkto, o sa pamamagitan ng pag-udyok ng agos sa produkto. Para sa magnetization, pare-pareho, alternating at pulsed magnetic field ay ginagamit. Optim. Ang mga kondisyon ng kontrol ay nilikha kapag ang depekto ay nakatuon patayo sa direksyon ng magnetizing field. Para sa magnetically hard materials, ang kontrol ay isinasagawa sa larangan ng natitirang magnetization, para sa magnetically soft materials - sa inilapat na field.
Magnetic indicator ang depektong field ay maaaring magsilbi bilang magnetic field. pulbos, hal. Ang mataas na dispersed na magnetite (magnetic powder method), pangkulay (upang kontrolin ang mga produktong may madilim na ibabaw) o fluorescent (upang tumaas ang sensitivity) ay minsang idinaragdag sa rum. Pagkatapos ng pagwiwisik o pagbuhos ng isang suspensyon ng isang magnetized na produkto, ang mga particle ng pulbos ay tumira sa mga gilid ng mga depekto at nakikita nang biswal. Ang sensitivity ng pamamaraang ito ay mataas - ang mga bitak na may lalim na ~25 µm at isang pagbubukas ng -2 µm ay nakita.
Gamit ang magnetographic Sa pamamaraang ito, ang tagapagpahiwatig ay isang magnet. ang tape, ang mga gilid, ay pinindot laban sa produkto at na-magnet kasama nito. Ang pagtanggi ay isinasagawa batay sa mga resulta ng pagsusuri ng magnetic recording. tape. Ang sensitivity ng pamamaraan sa mga depekto sa ibabaw ay kapareho ng sa paraan ng pulbos, at sa malalim na mga depekto ito ay mas mataas - sa lalim na hanggang 20-25 mm, ang mga depekto na may lalim na 10-15% ng kapal ay nakita.
Maaaring gamitin ang mga passive induction converter bilang indicator ng field ng depekto. Gumagalaw ang produkto kasama ang kamag-anak. sa bilis na hanggang 5 m/s o higit pa, pagkatapos dumaan sa magnetizing device, dumadaan ito sa converter, na nag-uudyok ng signal sa mga coils nito na naglalaman ng impormasyon tungkol sa mga parameter ng depekto. Ang pamamaraang ito ay epektibo para sa pagsubaybay sa metal sa panahon ng proseso ng pag-roll, pati na rin para sa pagsubaybay sa mga riles ng tren.
Ang paraan ng indikasyon ng fluxgate ay gumagamit ng mga aktibong transduser - mga fluxgate, kung saan ang mga coils ay nasugatan sa isang manipis na permalloy core: kapana-panabik, ang field ng cut ay nakikipag-ugnayan sa field ng depekto, at sinusukat, sa pamamagitan ng emf ng cut ang lakas ng field ng depekto o ang gradient ng field na ito ay hinuhusgahan. Ang indicator ng fluxgate ay nagbibigay-daan sa iyo na makakita ng mga depekto na may haba (sa lalim) na ~10% ng kapal ng produkto sa mga produkto ng simpleng hugis, na gumagalaw sa bilis na hanggang 3 m/s, sa lalim na hanggang 10 mm. Upang isaad ang field ng depekto, batay sa mga nagko-convert Hall effect at magnetoresistive. Pagkatapos ng pagsubok gamit ang mga magnetic magnetic resonance na pamamaraan, ang produkto ay dapat na lubusang ma-demagnetize.
Ang pangalawang pangkat ng mga magnetic na pamamaraan. D. nagsisilbing kontrolin ang estado ng istruktura, mga thermal na rehimen. pagproseso, mekanikal mga katangian ng materyal. Kaya, mapilit na puwersa carbon at mababang haluang metal. ang bakal ay nauugnay sa nilalaman ng carbon at samakatuwid ay katigasan, magnetic permeability- na may nilalaman ng isang ferrite component (oc-phase), ang maximum na nilalaman ng hiwa ay limitado dahil sa pagkasira ng mga mekanikal na katangian. at teknolohikal mga katangian ng materyal. Espesyalista. mga device (ferritometers, a-phase meter, coercimeters, magnetic analyzer) gamit ang ugnayan sa pagitan ng magnetic. mga katangian at iba pang mga katangian ng materyal, ay nagbibigay-daan din sa iyo upang praktikal na malutas ang mga problema sa magnetic. D.
Magnetic na pamamaraan Ginagamit din ang D. upang sukatin ang kapal ng mga proteksiyon na patong sa mga produktong ferromagnetic. materyales. Ang mga device para sa mga layuning ito ay batay sa alinman sa ponderomotive action - sa kasong ito, ang puwersa ng pagkahumaling (paghihiwalay) ng DC ay sinusukat. magnet o electromagnet mula sa ibabaw ng produkto kung saan ito pinindot, o sa pamamagitan ng pagsukat ng magnetic tension. fields (gamit ang Hall sensors, fluxgates) sa magnetic circuit ng isang electromagnet na naka-install sa ibabaw na ito. Ang mga thickness gauge ay nagbibigay-daan sa mga sukat sa isang malawak na hanay ng mga kapal ng coating (hanggang sa daan-daang micron) na may error na hindi hihigit sa 1-10 microns.
Acoustic(ultrasoniko) D. gumagamit ng mga elastic wave (paayon, gupit, ibabaw, normal, baluktot) ng isang malawak na hanay ng dalas (pangunahing ultrasonic range), na ibinubuga sa tuloy-tuloy o pulsed mode at ipinapasok sa produkto gamit ang piezoelectric. (mas madalas - el-magnetoacoustic) converter na nasasabik ng isang el-magnetic generator. pag-aatubili. Ang pagpapalaganap sa materyal ng produkto, ang mga nababanat na alon ay lumalabag sa pagkabulok. degrees, at kapag nakatagpo sila ng mga depekto (mga paglabag sa pagpapatuloy o homogeneity ng materyal), sila ay makikita, refracted at nakakalat, habang binabago ang kanilang amplitude, phase at iba pang mga parameter. Sila ay tinatanggap ng pareho o hiwalay. converter at, pagkatapos ng naaangkop na pagproseso, ang signal ay ibinibigay sa isang indicator o recording device. Mayroong ilang mga pagpipilian sa tunog D., na maaaring magamit sa iba't ibang mga kumbinasyon.
Ang pamamaraan ng echo ay isang ultrasonic na lokasyon sa isang solidong daluyan; ito ang pinaka unibersal at malawakang pamamaraan. Ang mga pulso ng ultrasonic frequency na 0.5-15 MHz ay ipinapasok sa kinokontrol na produkto at ang intensity at oras ng pagdating ng mga echo signal na makikita mula sa ibabaw ng produkto at mula sa mga depekto ay naitala. Isinasagawa ang kontrol gamit ang echo method na may one-sided na pag-access sa produkto sa pamamagitan ng pag-scan sa ibabaw nito gamit ang finder sa ibinigay na bilis at hakbang sa pinakamainam. US input angle. Ang pamamaraan ay lubos na sensitibo at nalilimitahan ng ingay sa istruktura. Sa pinakamainam mga kondisyon, ang mga depekto ng iba't ibang laki ay maaaring makita. ikasampu ng mm. Ang kawalan ng pamamaraan ng echo ay ang pagkakaroon ng isang hindi makontrol na patay na zone malapit sa ibabaw, ang lawak ng hiwa (lalim) ay tinutukoy ng Ch. arr. ang tagal ng ibinubuga na pulso at kadalasan ay 2-8 mm. Ang pamamaraan ng echo ay epektibong kinokontrol ang mga ingot, mga hugis na casting, at mga metalurhiko na materyales. semi-tapos na mga produkto, hinangin, nakadikit, soldered, riveted joints at iba pang istrukturang elemento sa panahon ng pagmamanupaktura, imbakan at operasyon. Nakikita ang mababaw at panloob. mga depekto sa mga workpiece at produkto mga hugis at sukat na gawa sa mga metal at di-metal. materyales, mga zone ng paglabag sa crystalline homogeneity. istraktura at kaagnasan pinsala sa metal. mga produkto. Ang kapal ng produkto ay maaaring masukat nang may mataas na katumpakan na may isang panig na pag-access dito. Isang variant ng echo method gamit ang Kumakaway ng tupa, na may ganap na daloy ng pamamahagi, ay nagbibigay-daan para sa kontrol ng mahabang-haba na sheet na semi-tapos na mga produkto na may mataas na produktibidad; Ang limitasyon ay ang kinakailangan para sa patuloy na kapal ng kinokontrol na semi-tapos na produkto. Kontrolin gamit ang Kumaway si Rayleigh nagbibigay-daan sa iyo upang matukoy ang mga depekto sa ibabaw at malapit sa ibabaw; Ang limitasyon ay ang kinakailangan para sa mataas na kinis ng ibabaw.
Ang paraan ng anino ay nagsasangkot ng pagpapasok ng ultrasound mula sa isang bahagi ng produkto, at pagtanggap nito mula sa kabilang panig. Ang pagkakaroon ng isang depekto ay hinuhusgahan ng isang pagbawas sa amplitude sa zone ng sound shadow na nabuo sa likod ng depekto, o sa pamamagitan ng isang pagbabago sa yugto o oras ng pagtanggap ng signal na bumabalot sa depekto (time na bersyon ng pamamaraan). Sa isang panig na pag-access sa produkto, ang isang mirror na bersyon ng paraan ng anino ay ginagamit, kung saan ang tagapagpahiwatig ng isang depekto ay isang pagbaba sa signal na ipinapakita mula sa ilalim ng produkto. Ang paraan ng anino ay mas mababa sa pagiging sensitibo sa pamamaraan ng echo, ngunit ang kalamangan nito ay ang kawalan ng isang patay na zone.
Ang pamamaraan ng resonance ay ginagamit sa Chap. arr. upang sukatin ang kapal ng produkto. Sa pamamagitan ng kapana-panabik na mga ultrasonic vibrations sa lokal na dami ng dingding ng produkto, ang mga ito ay modulated sa dalas sa loob ng 2-3 octaves, at mula sa mga halaga ng mga resonant frequency (kapag ang isang integer na bilang ng mga kalahating alon ay umaangkop sa kapal ng pader ) ang kapal ng pader ng produkto ay tinutukoy na may error na humigit-kumulang. 1%. Kapag ang mga panginginig ng boses ay nasasabik sa buong dami ng produkto (pinagsamang bersyon ng pamamaraan), maaari ring hatulan ng isa sa pamamagitan ng pagbabago sa dalas ng resonant ang pagkakaroon ng mga depekto o pagbabago sa mga nababanat na katangian ng materyal ng produkto.
Ang libreng paraan ng vibration (integral na bersyon) ay batay sa shock excitation ng elastic vibrations sa isang kinokontrol na produkto (halimbawa, isang kapansin-pansing LF vibrator) at kasunod na pagsukat gamit ang isang mekanikal na piezoelectric na elemento. vibrations, sa pamamagitan ng mga pagbabago sa spectrum kung saan ang pagkakaroon ng isang depekto ay hinuhusgahan. Ang pamamaraan ay matagumpay na ginagamit upang kontrolin ang kalidad ng gluing mababang kalidad na mga materyales (textolite, playwud, atbp.) Sa bawat isa at sa metal. kaluban.
Ang paraan ng impedance ay batay sa pagsukat ng lokal na lakas ng makina. paglaban (impedance) ng kinokontrol na produkto. Ang impedance flaw detector sensor, na tumatakbo sa dalas ng 1.0-8.0 kHz, na pinindot sa ibabaw ng produkto, ay tumutugon sa puwersa ng reaksyon ng produkto sa punto ng pagpindot. Ang pamamaraan ay nagbibigay-daan sa iyo upang matukoy ang mga delamination na may isang lugar na 20-30 mm 2 sa nakadikit at soldered na mga istraktura na may metal. at di-metal. pagpuno, sa mga laminate, pati na rin sa mga clad sheet at pipe.
Ang paraan ng velocimetric ay batay sa pagbabago ng bilis ng pagpapalaganap ng mga baluktot na alon sa isang plato depende sa kapal ng plato o sa pagkakaroon ng mga delamination sa loob ng isang multilayer na nakadikit na istraktura. Ang pamamaraan ay ipinatupad sa mababang mga frequency (20-70 kHz) at ginagawang posible na makita ang mga delaminasyon na may isang lugar na 2-15 cm 2 (depende sa lalim), na matatagpuan sa lalim na hanggang 25 mm sa mga produktong gawa sa mga nakalamina na plastik.
Acoustic-topographical Ang pamamaraan ay batay sa pagmamasid sa mga mode ng panginginig ng boses, kabilang ang "Chladni figures," gamit ang pinong dispersed powder kapag ang paggulo ng mga baluktot na vibrations na may modulated (sa loob ng 30-200 kHz) frequency sa isang kinokontrol na produkto. Mga particle ng pulbos, na gumagalaw mula sa mga lugar sa ibabaw na nag-o-oscillating na may max. amplitude, sa mga lugar kung saan ang amplitude na ito ay minimal, ang mga contour ng depekto ay nakabalangkas. Ang pamamaraan ay epektibo para sa pagsubok ng mga produkto tulad ng mga multilayer na sheet at mga panel at nagbibigay-daan sa iyong makakita ng mga depekto na may haba na 1 - 1.5 mm.
Paraan ng tunog Ang paglabas (na may kaugnayan sa mga passive na pamamaraan) ay batay sa pagsusuri ng mga senyales na nagpapakilala sa mga stress wave na ibinubuga kapag lumitaw ang mga bitak at nabubuo sa isang produkto sa panahon ng mekanikal na proseso nito. o thermal loading. Ang mga signal ay natatanggap ng piezoelectrically. mga finder na matatagpuan sa ibabaw ng mga produkto. Ang amplitude, intensity at iba pang mga parameter ng mga signal ay naglalaman ng impormasyon tungkol sa pagsisimula at pag-unlad ng mga basag ng pagkapagod, stress corrosion at phase transformations sa materyal ng mga elemento ng istruktura, atbp. mga uri, welds, pressure vessel, atbp. Acoustic method. pinahihintulutan ka ng mga emisyon na makita ang mga umuunlad, ibig sabihin, karamihan. mapanganib na mga depekto at ihiwalay ang mga ito mula sa mga depekto na nakita ng iba pang mga pamamaraan, mga hindi umuunlad, hindi gaanong mapanganib para sa karagdagang operasyon ng produkto. Ang pagiging sensitibo ng pamamaraang ito kapag gumagamit ng espesyal Ang mga hakbang upang protektahan ang tumatanggap na aparato mula sa mga epekto ng panlabas na pagkagambala sa ingay ay medyo mataas at ginagawang posible na makakita ng mga bitak sa simula. mga yugto ng kanilang pag-unlad, bago pa maubos ang buhay ng serbisyo ng produkto.
Mga pangakong direksyon para sa pagbuo ng acoustics. Ang mga paraan ng pagkontrol ay sound vision, kabilang ang acoustic. holography, acoustic tomography.
Eddy kasalukuyang(electroinductive) D. ay batay sa pagtatala ng mga pagbabago sa kuryente. mga parameter ng eddy current flaw detector sensor (impedance ng coil o emf nito), na sanhi ng interaksyon ng field ng eddy currents na nasasabik ng sensor na ito sa isang produktong gawa sa electrically conductive material na may field ng sensor mismo. Ang resultang field ay naglalaman ng impormasyon tungkol sa mga pagbabago sa electrical conductivity at magnetic field. permeability dahil sa pagkakaroon ng structural inhomogeneities o discontinuities sa metal, pati na rin ang hugis at sukat (kapal) ng produkto o coating.
Ang mga sensor ng eddy current flaw detector ay ginawa sa anyo ng mga inductance coils na inilagay sa loob ng kinokontrol na produkto o nakapalibot dito (pass-through sensor) o inilapat sa produkto (applied sensor). Sa mga sensor ng uri ng screen (pass-through at overhead), ang kinokontrol na produkto ay matatagpuan sa pagitan ng mga coil. Eddy kasalukuyang pagsubok ay hindi nangangailangan ng mekanikal contact ng sensor sa produkto, na nagbibigay-daan sa pagsubaybay sa mataas na bilis. paggalaw (hanggang 50 m/s). Ang mga eddy current flaw detector ay nahahati sa mga bakas. basic mga pangkat: 1) mga aparato para sa pag-detect ng mga discontinuities na may pass-through o clamp-on na mga sensor na tumatakbo sa isang malawak na hanay ng dalas - mula 200 Hz hanggang sampu-sampung MHz (ang pagtaas ng dalas ay nagpapataas ng sensitivity sa haba ng mga bitak, dahil ang mga maliliit na sukat na sensor ay maaaring ginamit). Ito ay nagbibigay-daan sa iyo upang matukoy ang mga bitak, mga non-metallic na pelikula. mga inklusyon at iba pang mga depekto na may haba na 1-2 mm sa lalim na 0.1-0.2 mm (na may sensor na naka-mount sa ibabaw) o may haba na 1 mm sa lalim na 1-5% ng diameter ng produkto ( na may pass-through sensor). 2) Mga aparato para sa pagkontrol ng mga sukat - mga sukat ng kapal, sa tulong kung saan sinusukat ang kapal ng agnas. patong na inilapat sa base mula sa agnas. materyales. Ang pagpapasiya ng kapal ng mga non-conductive coatings sa mga electrically conductive substrates, na mahalagang pagsukat ng gap, ay isinasagawa sa mga frequency hanggang 10 MHz na may error sa loob ng 1-15% ng sinusukat na halaga.
Upang matukoy ang kapal ng electrically conductive galvanic. o cladding. coatings sa isang electrically conductive base, eddy current thickness gauge ay ginagamit, kung saan ang mga espesyal ay ipinatupad. mga scheme para sa pagsugpo sa impluwensya ng mga pagbabago sa mga beats. electrical conductivity ng base material at mga pagbabago sa laki ng puwang.
Eddy current thickness gauge ay ginagamit upang sukatin ang kapal ng pader ng mga tubo at non-ferromagnetic cylinder. materyales, pati na rin ang mga sheet at foil. Saklaw ng pagsukat 0.03-10 mm, error 0.6-2%.
3) Pinahihintulutan ng Eddy current structure meter, sa pamamagitan ng pagsusuri sa mga halaga ng beat. electrical conductivity at magnetic pagkamatagusin, pati na rin ang mga parameter ng mas mataas na boltahe harmonics, hatulan ang kemikal. komposisyon, estado ng istruktura ng materyal, panloob na sukat. stress, pag-uri-uriin ang mga produkto ayon sa materyal na grado, kalidad ng thermal. pagpoproseso, atbp. Posibleng matukoy ang mga zone ng structural heterogeneity, fatigue zones, tantyahin ang lalim ng decarbonized layers, thermal layers. at chemical-thermal. pagpoproseso, atbp. Para dito, depende sa partikular na layunin ng device, alinman sa high-intensity LF field, o low-intensity HF field, o dual- at multi-frequency na field ay ginagamit. Sa structure meter, para mapataas ang dami ng impormasyon na kinuha mula sa sensor, bilang isang panuntunan, ginagamit ang mga ito ng mga multi-frequency na mga patlang at ang spectral analysis ng signal ay isinasagawa. Mga instrumento para sa pagsubaybay sa ferromagnetic gumagana ang mga materyales sa mababang frequency range (50 Hz-10 kHz), upang kontrolin ang mga non-ferromagnetic na materyales - sa high-frequency range (10 kHz-10 mHz), na dahil sa pag-asa ng epekto ng balat sa magnetic halaga. pagkamatagusin.
Electrical D. ay batay sa paggamit ng mahinang DC. mga alon at electric static. field at isinasagawa sa pamamagitan ng electric contact, thermoelectric, triboelectric. at el-static. paraan. Ginagawang posible ng electronic contact method na makita ang mga depekto sa ibabaw at ilalim ng ibabaw sa pamamagitan ng mga pagbabago sa electrical resistance sa ibabaw ng produkto sa lugar kung saan matatagpuan ang depektong ito. Sa tulong ng espesyal mga contact na matatagpuan sa layo na 10-12 mm mula sa isa't isa at mahigpit na pinindot sa ibabaw ng produkto, ang kasalukuyang ay ibinibigay, at sa isa pang pares ng mga contact na matatagpuan sa kasalukuyang linya, isang boltahe na proporsyonal sa paglaban sa lugar sa pagitan nila ay sinusukat. Ang isang pagbabago sa paglaban ay nagpapahiwatig ng isang paglabag sa homogeneity ng materyal na istraktura o pagkakaroon ng isang crack. Ang error sa pagsukat ay 5-10%, na dahil sa kawalang-tatag ng kasalukuyang at pagsukat ng paglaban. mga contact.
Thermoelectric Ang pamamaraan ay batay sa pagsukat ng thermoelectromotive force (TEMF) na nabuo sa isang closed circuit kapag ang contact point sa pagitan ng dalawang magkaibang metal ay pinainit. Kung ang isa sa mga metal na ito ay kinuha bilang isang pamantayan, pagkatapos ay para sa isang naibigay na pagkakaiba sa temperatura sa pagitan ng mainit at malamig na mga contact, ang halaga at tanda ng thermoelectric na puwersa ay matutukoy ng mga katangian ng pangalawang metal. Gamit ang pamamaraang ito, maaari mong matukoy ang grado ng metal kung saan ginawa ang isang workpiece o elemento ng istruktura, kung ang bilang ng mga posibleng pagpipilian ay maliit (2-3 grado).
Triboelectric Ang pamamaraan ay batay sa pagsukat ng triboEMF na nangyayari kapag ang magkakaibang mga metal ay kumakapit sa isa't isa. Sa pamamagitan ng pagsukat ng potensyal na pagkakaiba sa pagitan ng sanggunian at pagsubok na mga metal, posible na makilala sa pagitan ng mga tatak ng ilang mga haluang metal. Pagbabago sa chem. komposisyon ng haluang metal sa loob ng mga limitasyong pinahihintulutan ng mga teknikal na pamantayan. kundisyon, humahantong sa pagkakalat ng thermo- at triboelectric na pagbabasa. mga device. Samakatuwid, ang parehong mga pamamaraan na ito ay magagamit lamang sa mga kaso ng matalim na pagkakaiba sa mga katangian ng mga haluang metal na pinagsunod-sunod.
El-static na pamamaraan ay batay sa paggamit ng ponderomotive forces el-static. mga patlang kung saan inilalagay ang produkto. Upang makita ang mga bitak sa ibabaw sa mga metal coatings. Ang mga produkto nito ay pollinated na may pinong chalk powder mula sa isang spray bottle na may dulo ng ebonite. Ang mga particle ng chalk, kapag ipinahid sa ebonite, ay positibong na-charge dahil sa triboelectricity. epekto at tumira sa mga gilid ng mga bitak, dahil malapit sa huli mayroong heterogeneity ng el-static. patlang na ipinahayag sa karamihan. halata. Kung ang produkto ay gawa sa mga non-electrically conductive na materyales, ito ay paunang nabasa ng isang ionogenic penetrant at pagkatapos na alisin ang labis nito mula sa ibabaw ng produkto, ang isang singil ay pulbos. mga particle ng chalk, na naaakit ng likidong pumupuno sa puwang ng crack. Sa kasong ito, posibleng makakita ng mga bitak na hindi umaabot sa ibabaw na sinusuri.
Capillary D. ay batay sa sining. pagtaas ng kulay at magaan na kaibahan ng lugar ng produkto na naglalaman ng mga bitak sa ibabaw na may kaugnayan sa nakapalibot na ibabaw. Ipinatupad ang ch. arr. luminescent at mga pamamaraan ng kulay, na nagpapahintulot sa pag-detect ng mga bitak, ang pagtuklas kung saan sa mata ay imposible dahil sa kanilang maliit na sukat, at ang paggamit ng optical hindi epektibo ang mga device dahil sa hindi sapat na contrast ng imahe at maliit na field of view sa mga kinakailangang magnification.
Upang makita ang isang crack, ang lukab nito ay puno ng isang penetrant - isang tagapagpahiwatig na likido batay sa mga phosphors o mga tina, na tumagos sa lukab sa ilalim ng pagkilos ng mga puwersa ng capillary. Pagkatapos nito, ang ibabaw ng produkto ay nalinis ng labis na penetrant, at ang indicator na likido ay nakuha mula sa crack cavity gamit ang isang developer (sorbent) sa anyo ng isang pulbos o suspensyon, at ang produkto ay sinusuri sa isang madilim na silid sa ilalim ng UV liwanag (luminescent method). Ang luminescence ng indicator solution na hinihigop ng sorbent ay nagbibigay ng malinaw na larawan ng lokasyon ng mga bitak na may min. pagbubukas 0.01 mm, lalim 0.03 mm at haba 0.5 mm. Sa paraan ng kulay, walang pagtatabing kinakailangan. Ang isang penetrant na naglalaman ng isang dye additive (karaniwan ay maliwanag na pula), pagkatapos punan ang crack cavity at linisin ang ibabaw ng labis nito, diffuses sa isang puting pagbuo ng barnis na inilapat sa isang manipis na layer sa ibabaw ng produkto, malinaw na binabalangkas ang mga bitak. Ang sensitivity ng parehong mga pamamaraan ay humigit-kumulang pareho.
Ang bentahe ng capillary D. ay ang versatility at pagkakapareho ng teknolohiya para sa iba't ibang bahagi. mga hugis, sukat at materyales; Ang kawalan ay ang paggamit ng mga materyales na lubhang nakakalason, sumasabog at mapanganib sa sunog, na nagpapataw ng mga espesyal na kinakailangan sa kaligtasan.
Ang kahulugan ng D. D. pamamaraan ay ginagamit sa iba't ibang paraan. mga lugar ng pambansang ekonomiya, pagtulong upang mapabuti ang teknolohiya ng mga produkto ng pagmamanupaktura, pagpapabuti ng kanilang kalidad, pagpapahaba ng buhay ng serbisyo at pag-iwas sa mga aksidente. Ang ilang mga pamamaraan (pangunahing acoustic) ay nagbibigay-daan para sa pana-panahon kontrol ng mga produkto sa panahon ng kanilang operasyon, tasahin ang pagkasira ng materyal, na lalong mahalaga para sa paghula sa natitirang buhay ng mga kritikal na produkto. Kaugnay nito, ang mga kinakailangan para sa pagiging maaasahan ng impormasyon na nakuha kapag gumagamit ng mga pamamaraan ng data, pati na rin para sa pagganap ng kontrol, ay patuloy na tumataas. Dahil metrological Ang mga katangian ng mga flaw detector ay mababa at ang kanilang mga pagbabasa ay naiimpluwensyahan ng maraming random na mga kadahilanan; ang pagtatasa ng mga resulta ng inspeksyon ay maaari lamang maging probabilistic. Kasabay ng pagbuo ng mga bagong pamamaraan ng D., pangunahing. direksyon ng pagpapabuti ng mga umiiral na - automation ng kontrol, paggamit ng mga multi-parameter na pamamaraan, paggamit ng mga computer para sa pagproseso ng natanggap na impormasyon, pagpapabuti ng metrological. mga katangian ng kagamitan upang madagdagan ang pagiging maaasahan at pagganap ng kontrol, ang paggamit ng mga panloob na pamamaraan ng visualization. istraktura at mga depekto ng produkto.
Lit.: Schreiber D.S., Ultrasonic flaw detection, M., 1965; Hindi mapanirang pagsubok. (Handbook), ed. D. McMaster, trans. mula sa Ingles, libro. 1-2, M.-L., 1965; Falkevich A. S., Khusanov M. X., Magnetographic na pagsubok ng mga welded joints, M., 1966; Dorofeev A.L., Electroinductive (induction) flaw detection, M., 1967; Rumyantsev S.V., Radiation defectoscopy, 2nd ed., M., 1974; Mga instrumento para sa hindi mapanirang pagsubok ng mga materyales at produkto, ed. V.V. Klyueva, [vol. 1-2], M., 1976; Hindi mapanirang pagsubok ng mga metal at produkto, ed. G. S. Samoilovich, M., 1976. D. S. Schreiber.
